Procesado y caracterización 3D y 4D de materiales
El Laboratorio procesado y caracterización 3 y 4D está ubicado en el Instituto IMDEA Materiales y está organizado en tres unidades fundamentales:
- Unidad de Microscopía Electrónica
- Unidad de Tomografías de Rayos X
- Unidad de Fabricación Aditiva
El coordinador de servicios del laboratorio es el Dr. Juan Pedro Fernández. Cada una de las unidades cuenta, asimismo, con la supervisión científica de los investigadores senior responsables de cada una de las líneas de investigación.
El Laboratorio de procesado y caracterización 3 y 4D de materiales, está formado por:
Coordinador de servicios: Dr. Juan Pedro Fernández.
Unidad de Microscopía Electrónica:
Responsable técnico: Dr. Manuel Avella.
Coordinador Científico: Dr. Jon Molina.
Unidad de Tomografías de Rayos X:
Responsable técnico: Dr. Javier García.
Coordinador Científico: Dr. Federico Sket.
Unidad de Fabricación Aditiva:
Responsable técnico: Amalia San Román
Coordinador Científico: Dr. Teresa Pérez Prado.
Unidad de Microscopía Electrónica:
Caracterización de la microestructura mediante microscopía de barrido con presión controlada (SEM).
Caracterización de mecanismos de deformación y mecanismos de fractura con ensayos in-situ mediante microscopía de barrido con presión controlada (SEM) y máquina de ensayos mecánicos. En materiales metálicos y compuestos.
Caracterización en modo TEM o STEM y la realización de análisis químicos mediante EDS; tomografía en modo TEM, STEM y EDS; ensayos mecánicos in-situ dentro del TEM mediante la utilización del holder Hysitron PIcoindenter PI95.
Unidad de Tomografías de Rayos X:
Caracterización de defectos y estructura interna mediante tomografía computacional de rayos X.
Caracterización de mecanismos de fractura con ensayos in-situ mediante tomografía computacional de rayos X y máquina de ensayos mecánicos. En materiales compuestos.
Fabricación Aditiva:
Fabricación por fusión por láser en lecho de polvo (laser powder bed fusion de muestras de aleaciones metalicas)
Equipos disponibles en la actualidad:
Unidad de Microscopía Electrónica:
Microscopio SEM Thermofisher Scientific Apreo 2S LoVac FEG, equipado con una columna de electrones de NiCol con lente de inmersión y capacidades de desaceleración del haz. Detector Everhart-Thornley (ETD), sistema de detección Trinity en lente (T1, T2, T3), detector de retrodispersión retráctil (CBS/ABS), detector de bajo vacío (LVD) y GAD-CBS/ABS para modo de bajo vacío.
FEI Talos F200X, microscopio FEG S/TEM, que integra un sistema de análisis químico por espectrometría de energía dispersiva (EDS), una cámara digital CMOS para adquirir imágenes con una resolución máxima de 4×4 k, un sistema de tomografía para realizar tomografías en TEM , modo STEM y EDS y un soporte Hysitron PicoIndenter PI95, para realizar pruebas nanomecánicas in situ (S/TEM-Ind).
Para más información sobre el uso externo del SEM pulse aquí
Para más información sobre el uso externo del TEM pulse aquí
Unidad de Tomografías de Rayos X:
GE (Phoenix) Nanotom 160 kV con detector Hamamatsu 7942-25SK (2K x 2K) y objetivos de tungsteno y molibdeno, con fuente de rayos X nanofocus. Este equipo es capaz de realizar tanto modos de radiografía (RX) como de tomografía computarizada (XCT).
Tomógrafo de laboratorio Zeiss Xradia 620 Versa con detector de panel plano (3k × 2k píxeles) y cámara CCD (2k × 2k píxeles) con posibilidad de diferentes objetivos (0,4X, 4X, 20X y 40X). El equipo cuenta con un tubo de rayos X focalizado con emisor de tungsteno y voltaje de hasta 160 kV. Este equipo permite la adquisición de radiografías (RX) y tomografías computarizadas (XCT), así como la posibilidad de realizar tomografías de difracción (DCT), que pueden determinar el tamaño y orientación de los granos en materiales metálicos.
Para más información sobre el uso externo del Tomógrafo de rayos-X PHOENIX pulse aquí
Para más información sobre el uso externo del Tomógrafo Zeiss Xradia 620 Versa pulse aquí
Unidad de Fabricación Aditiva:
Sistema Renishaw AM400 Laser Powder Bed Fusion (LPBF) para la fabricación aditiva de materiales metálicos (Inconel, Aluminio, Aleaciones de alta entropía, Nitinol, Níquel) con las siguientes caracteristicas:
- Potencia del láser: 400 W
- Grosor del láser: 20 a 100 micrómetros
- Tamaño del punto: 70 micrómetros
- Velocidad de escaneo: hasta 2 m/s
- Volumen de construcción: 248 mm x 248 mm x 285 mm
- Opción de volumen de construcción reducido disponible: 55 mm x 78 mm x 78 mm
Para obtener más información sobre los servicios del Instuto en procesamiento y caracterización 3 y 4D de materiales y/o una oferta técnico-económica específica, envíe un correo electrónico a contact.materials@imdea.org.
Para el caso específico de los servicios de TEM y Tomografía de Rayos X, contactar directamente con el técnico responsable de cada equipo.
- Para TEM: Dr. Manuel Avella (manuel.avella@imdea.org)
- Tomografía de rayos X: Dr. Javier García (javier.garcia@imdea.org).
Para más información sobre los servicios y tarifas actuales del TEM, pulse aquí.
Para más información sobre los servicios y las tarifas actuales de la Tomografía de Rayos X, pulse aquí.
Las tarifas para el resto de los servicios variarán en función de los trabajos de caracterización que se requieran (tipo de material, tipo de ensayos, número de muestras, normas de ensayo, etc).
Localización
C/ Eric Kandel, 2
Tecnogetafe
28906, Getafe, Madrid (España)
Teléfono: (+34) 91 549 34 22
Correo electrónico:
Equipamiento
