Tomógrafo de rayos-X – uso externo

DESCRIPCIÓN DEL EQUIPO

Tomógrafo de laboratorio marca GE (Phoenix) Nanotom 160 kV con detector Hamamatsu 7942-25SK (2K x 2K) y tubo de rayos X nanofoco con emisor de wolframio o molibdeno. Este equipo permite la adquisición de radiografías (RX) y tomografía computarizada (XCT).

La resolución espacial varía entre <1 µm/px y 30 µm/px, dependiendo del tamaño y composición de la muestra. El campo de visión (FOV) varía de acuerdo a la resolución requerida y el detector se puede ampliar de forma virtual hasta tres veces.

La técnica de tomografía es muy versátil y el equipo permite escanear un amplio rango de materiales, como por ejemplo:

  • Muestras biológicas
  • Muestra geológicas
  • Aleaciones metálicas (litio, magnesio, titanio, aluminio, níquel, acero, etc.)
  • Materiales compuestos
    • De matriz metálica
    • De matriz polimérica (fibra de vidrio, fibra de carbono, híbridos, etc.)
    • Cerámica
    • Adhesiones

Ejemplos de aplicación:

  • Análisis geométrico
  • Análisis de daño
  • Análisis de defectos
  • Porosidad
  • Interconectividad de fases, defectos, porosidad
  • Orientación de los objetos evaluados
  • Distribución espacial en 3D de defectos, daño, fases, etc.

Algunos ejemplos de aplicación específicos se pueden encontrar en:

http://www.materials.imdea.org/groups/nano/research-lines/x-ray-tomography/

Otros servicios disponibles:

  • Análisis de las muestra escaneadas con distintos softwares (Avizo, VGStudio Max, software desarrollado internamente)
  • In-situ:
    • Ensayos mecánicos:
      • Tensión
      • Compresión
      • Fatiga de baja frecuencia
      • Aplicación de temperatura (hornos in-situ)
    • Para otras aplicaciones in-situ, por favor, contacte con nosotros.

RESPONSABLES DEL EQUIPO

Responsable científico: Dr. Federico Sket (federico.sket@imdea.org)

Responsable técnico:

TARIFAS: 

MODOTarifa B (OPIs)Tarifa C (empresas privadas)
Radiografía/Tomografía40 €/hora50 €/hora
Aplicaciones in-situ Contacte con nosotrosContacte con nosotros
Análisis de datosContacte con nosotrosContacte con nosotros