SEM – Uso Externo

DESCRIPCIÓN DEL EQUIPO

Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FE-SEM) Apreo 2S LoVac. de Thermo Fisher Scientific

El microscopio está equipado con una columna de electrones NiCol con lente de inmersión y función de desaceleración del haz. Detector Everhart-Thornley (ETD), Sistema Trinity de Detectores in-lens (T1, T2, T3), detector retráctil de electrones retrodispersados (CBS/ABS), detectores de bajo vacío (LVD) y GAD-CBS/ABS para modo de bajo vacío.

Modo de bajo vacío con presiones que oscilan entre 10 y 500 Pa para la visualización de muestras no conductoras sin ningún recubrimiento metálico.

Sistema integrado de EBSD-EDS de Oxford con detector Symmetry CMOS para análisis cristalográfico y estructural, y detector EDS UltimMax40 SDD para análisis de composición elemental.

Software Maps 3 para mapeo de áreas grandes y microscopía correlativa.

Modo de Rocking Beam para ECCI (Electron Channelling Contrast Imaging) para revelar dislocaciones y otros defectos cristalinos.

Resolución del haz de electrones (muestra ideal, distancia óptima de trabajo):

Alto Vacío, modo field-free	Alto Vacío, modo de inmersión	Bajo Vacío, modo field-free
15 kV 1.0 nm	15 kV 0.7 nm	15 kV 1.2 nm
1 kV 0.9 nm	1 kV 1.0 nm	3 kV 1.8 nm

Detectores disponibles:

	Modo de Alto Vacío	Modo de Bajo Vacío
Electrones secundarios	ETD (Detector Everhart-Thornley) T2 & T3 (in-lens)	LVD (Detector de bajo vacío)
Electrones retrodispersados	BS & ABS (retráctil) T1 (in-lens)	CBS & ABS (retráctil) GAD-CBS/ABS

GERENTES DE LAS INSTALACIONES

Responsable Científico: Dr. Jon Molina-Aldareguia (jon.molina@imdea.org)

Responsable de laboratorio: Manuel Avella (manuel.avella@imdea.org)

PRECIOS:

EQUIPO	S. EXT. OPIS	S. EXT. EMPRESA
R-02170 – FEG-SEM Apreo 2S LoVac	100,00	150,00