M. A. Monclús, M. Karlik, M. Callisti, E. Frutos, J. LLorca, T. Polcar, J. M. Molina-Aldareguía. Microstructure and mechanical properties of PVD Cu/W nanoscale multilayers: influence of layer thickness and temperature. Thin Solid Films 571, 275-282, 2014. DOI:10.1016/j.tsf.2014.05.044

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