Caracterización Multiescala de Materiales y Procesos

Principales líneas de investigación

Tomografía (XCT) y difracción de rayos-X (XRD)
FIB-FEGSEM, incluyendo 3D-SEM, 3D-EDS y 3D-EBSD.
TEM, incluyendo 3D-STEM y 3D-EDS.
Estudios espectroscópicos/microscópicos e implementación de los mismos en dispositivos de almacenamiento energético electroquímico como Li-ion, Na-ion, Li-S y LiO₂.

Ensayos termo-mecánicos a lo largo de varias escalas de longitud: tensión, compresión, fatiga, creep, etc. en el microscopio de barrido electrónico y el tomógrafo de rayos-X.
Propiedades y mecanismos de deformación de volúmenes pequeños mediante ensayos nanomecánicos en SEM y TEM: propiedades de fases metálicas, interfases, nanopartículas, nanomateriales basados en carbono (nanotubos de carbono, grafeno, …).
Ensayos nanomecánicos a temperatura elevada
Caracterización 4D de procesos mediante tomografía y difracción de rayos-X: solidificación de aleaciones metálicas, reacciones químicas y formación de fases en aleaciones metálicas, estudios de infiltración y flujo de resina en materiales compuestos, curado en materiales compuestos, etc.