Equipo "dual beam" (FIB/SEM) disponible

Logo del Instituto IMDEA Materiales (dimensiones de 50 µm x 40 µm) fabricado mediante un equipo "dual beam"

El Instituto IMDEA Materiales amplía su infraestructura científica con un equipo "dual beam" (haz de iones focalizados y microscopio electrónico de barrido). El sistema (Helios NanoLab 600i, FEI) está completamente equipado con un detector STEM, microanálisis de rayos X (EDS) y difracción de electrones retrodispersados (EBSD) para realizar análisis 3-D microestructural, químico y de orientación cristalográfica. El sistema también permite la preparación de muestras para TEM, micro-mecanizado y creación de patrones mediante milling.

Infraestructura científica disponible en el centro